Корзина
14 отзывов
Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности. D8 FABLINE.
Производители
Контакты
ООО "Мелитэк-Украина"
Наличие документов
Знак Наличие документов означает, что компания загрузила свидетельство о государственной регистрации для подтверждения своего юридического статуса компании или физического лица-предпринимателя.
+38044454-05-90
Элина Громенко
УкраинаКиевбул. И.Лепсе, 4, корпус 1, оф.30803068
Карта

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности. D8 FABLINE.

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности. D8 FABLINE.
  • Под заказ

Цену уточняйте

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности. D8 FABLINE.
Цену уточняйте
Под заказДифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности. D8 FABLINE.
+38044454-05-90
+38044454-05-90
  • График работы
  • Адрес и контакты

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности

Дифрактометр D8 FABLINE специально разработан для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, D8 FABLINE позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности.
Исследование пластин размером от 6» до 300 мм
Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца
Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом
Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов
D8 FABLINE может быть оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин
Сенсорный экран делает работу с системой более удобной

facebook twitter
Характеристики
Основные атрибуты
Страна производительГермания
Производитель  Bruker
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре