Корзина
14 отзывов
Дифрактометр для нанотехнологий. D8 DISCOVER.
Производители
Контакты
ООО "Мелитэк-Украина"
Наличие документов
Знак Наличие документов означает, что компания загрузила свидетельство о государственной регистрации для подтверждения своего юридического статуса компании или физического лица-предпринимателя.
+38044454-05-90
Элина Громенко
УкраинаКиевбул. И.Лепсе, 4, корпус 1, оф.30803068
Карта

Дифрактометр для нанотехнологий. D8 DISCOVER.

Дифрактометр для нанотехнологий. D8 DISCOVER.
  • Под заказ

Цену уточняйте

Дифрактометр для нанотехнологий. D8 DISCOVER.
Цену уточняйте
Под заказДифрактометр для нанотехнологий. D8 DISCOVER.
+38044454-05-90
+38044454-05-90
  • График работы
  • Адрес и контакты

Дифрактометр для нанотехнологий

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.
Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения

facebook twitter
Характеристики
Основные атрибуты
Производитель  Bruker
Страна производительГермания
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре