Корзина
14 отзывов
Система ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов QUANTAX.
Производители
Контакты
ООО "Мелитэк-Украина"
Наличие документов
Знак Наличие документов означает, что компания загрузила свидетельство о государственной регистрации для подтверждения своего юридического статуса компании или физического лица-предпринимателя.
+38044454-05-90
Элина Громенко
УкраинаКиевбул. И.Лепсе, 4, корпус 1, оф.30803068
Карта

Система ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов QUANTAX.

Система ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов QUANTAX.
  • Под заказ

Цену уточняйте

Система ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов QUANTAX.
Цену уточняйте
Под заказСистема ЭДС микроанализа для электронных микроскопов и микрозондов QUANTAX.
+38044454-05-90
+38044454-05-90
  • График работы
  • Адрес и контакты

Рентгеноспектральный микроанализ – метод химического анализа состава твердых образцов, тонких слоев или частиц на электронных микроскопах и микрозондах. Используя нашу рентгеновскую систему энергодисперсионного (ЭДС) микроанализа QUANTAX можно определять одновременно все элементы от бериллия (4) до америция (95). Возможность получения информации об элементном составе с пространственным разрешением в 1 микрон и пределами обнаружения порядка десятых долей массового процента делают рентгеноспектральный микроанализ одним из наиболее чувствительных из доступных аналитических методов.

Система ЭДС микроанализа QUANTAX предназначена для рентгеноспектрального анализа на сканирующем и просвечивающем электронном микроскопе (РЭМ и ПЭМ), а также электронном микрозонде (ЭЗМА). Система с SDD кремниевым дрейфовым детектором XFlash без охлаждения жидким азотом адаптирована под все типы РЭМ и ПЭМ. Современный тип энергодисперсионного SDD детектора 5го поколения и мощный процессор обеспечивают быстрое сканирование за счет высокой скорости счета >750 000 имп/с. Низкое разрешение (до 123 эВ на линии Mn K?) детектора и полимерное входное окно позволяют проводить рентгенофлуоресцентный анализ от бериллия (4). Система снабжена программным обеспечением ESPRIT с интуитивным интерфейсом, которая включает количественный анализ, в том числе и бесстандартный, расширенную библиотеку линий для длинноволновой области, картирование и т.д.

Новая система дифракции на обратно рассеянных электронах QUANTAX CrystAlign EBSD дополняет результаты химического анализа образца (ЭДС) информацией о его структуре, что помогает аналитику лучше понять его материальные свойства. Система CrystAlign сконструирована таким образом, чтобы сделать фактически сложную технику EBSD намного более доступной для обычного пользователя.

Основные преимущества QUANTAX:
SDD кремниевый дрейфовый детектор XFlash со стабильным разрешением в 123 эВ на линии Mn K? при скорости счета 100 000 имп/с, размер чипа – 10, 30 или 40 мм2
Энергетическое разрешение детектора XFlash на линии C K? – 46 эВ, на линии F K? – 54эВ
Безазотный детектор охлаждается до -25о С и не требует никакого дополнительного обслуживания
Высокоскоростной блок электроники – гибридный (аналого-цифровой) процессор импульсов
Расширенная библиотека линий для длинноволновой области, включая N-линии
Новые возможности программного обеспечения ESPRIT благодаря сверхскоростному детектору XFlash: спектроскопия в реальном времени
сверхбыстрое картирование
функция Hypermap с запоминанием всего спектра в каждой точке

facebook twitter
Характеристики
Основные
Производитель  Bruker
Страна производительГермания
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре
Смотрите также